瀏覽量:1718 發(fā)布時(shí)間:2021-05-14 17:23:12
數(shù)字電橋是一種能夠測(cè)量電感、電容、電阻、阻抗的儀器,常被用于半導(dǎo)體元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測(cè)量;其它元件:印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估;介質(zhì)材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評(píng)估等。今天為大家講解的是LCR數(shù)字電橋常見問題的解決辦法。
問題1:怎樣選擇測(cè)試速度?
一般來說,測(cè)試速度是以犧牲測(cè)試精度為代價(jià)的,速度越快,精度越差,讀數(shù)穩(wěn)定性差,有效位數(shù)變少.如果要測(cè)試精度,一般選擇慢速,要考慮測(cè)試速度和測(cè)試精度就選擇中速.
問題2:什么是負(fù)載校準(zhǔn),負(fù)載校準(zhǔn)應(yīng)注意哪些?
負(fù)載校準(zhǔn)是一種的*級(jí)的儀器校準(zhǔn)方法,可以使儀器在高于儀器原有準(zhǔn)確度的基礎(chǔ)上測(cè)量元件.統(tǒng)一現(xiàn)場(chǎng)所有LCR數(shù)字電橋的測(cè)試數(shù)據(jù).使用負(fù)載校準(zhǔn)可以使儀器在更高精度下測(cè)試.當(dāng)有更準(zhǔn)確的元件并需對(duì)同規(guī)格元件進(jìn)行更高準(zhǔn)確度的測(cè)量.
問題3:測(cè)試電容器漏電流時(shí),測(cè)試時(shí)間如何設(shè)定?
生產(chǎn)線上幾乎不可能按標(biāo)準(zhǔn)的1分鐘來設(shè)定測(cè)試時(shí)間,一般是用抬高漏電流的設(shè)定值來相應(yīng)縮短測(cè)試時(shí)間,具體的比例關(guān)系由各企業(yè)根據(jù)自己的經(jīng)驗(yàn)公式來確定,一般設(shè)定的充電時(shí)間都在10秒以內(nèi)(大容值電容和多個(gè)電容同時(shí)充電的情況除外).
LCR數(shù)字電橋在被測(cè)元件接入時(shí),接入軸向引線元件時(shí),為避免扭折引線,可采用軸向轉(zhuǎn)接頭,先把這兩個(gè)配件分別插入測(cè)試夾的兩端,再將其間距調(diào)正到適合元件測(cè)量的位置,然后便將軸向引線元件插入兩端的配件夾內(nèi).