日本KETT LE-373磁感應(yīng)膜厚計(jì)采用電磁感應(yīng)測(cè)試原理無(wú)損測(cè)試磁性基材(鐵或鋼)上的非磁性涂鍍層的厚度,可將測(cè)試數(shù)據(jù)導(dǎo)入電腦或直接通過(guò)外接打印機(jī)打印。
關(guān)鍵字:LE-373,LE-373磁感應(yīng)膜厚計(jì),KETT LE-373,日本KETT LE-373
日本KETT LE-373磁感應(yīng)膜厚計(jì)采用電磁感應(yīng)測(cè)試原理無(wú)損測(cè)試磁性基材(鐵或鋼)上的非磁性涂鍍層的厚度,可將測(cè)試數(shù)據(jù)導(dǎo)入電腦或直接通過(guò)外接打印機(jī)打印。
日本KETT LE-373磁感應(yīng)膜厚計(jì)產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
LE-373型電磁式膜厚計(jì)采用電磁感應(yīng)測(cè)試原理無(wú)損測(cè)試磁性基材(鐵或鋼)上的非磁性涂鍍層(如:油漆、塑料、樹脂、橡膠、琺瑯、鋅、鉻、錫、銅、鋁、其他)的厚度??蓪y(cè)試數(shù)據(jù)導(dǎo)入電腦或直接通過(guò)外接打印機(jī)打印。
LE-373型電磁式膜厚計(jì)為L(zhǎng)E-370型升級(jí)版:升級(jí)部分為數(shù)據(jù)存儲(chǔ)有原理的3000個(gè)加大為39000個(gè);資料傳輸速度更快;管理軟件的升級(jí)。
測(cè)試原理圖
日本KETT LE-373磁感應(yīng)膜厚計(jì)技術(shù)參數(shù):
測(cè)試方法:電磁感應(yīng)
應(yīng)用:磁性基材(鐵或鋼)上的非磁性涂鍍層
測(cè)試范圍:0-2500μm或99.0mils
測(cè)試精度:<50 μm ± 1μ m、50 μm to <1000 μm ± 2%、≥ 1000 μm ± 3%
分辨率:0.1μm (<100μm), 1.0μm (≥100μm)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ):大約 39000 個(gè)
應(yīng)用存儲(chǔ): 100 種校準(zhǔn)曲線
符合標(biāo)準(zhǔn):JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5
功能:多達(dá)16種的功能設(shè)置
測(cè)試探頭:點(diǎn)觸式(LEP-J)
顯示方式:LCD數(shù)字顯示器,帶背光
外接輸出:PC(USB或RS-232C)或者打印輸出 (RS-232C)
供電電壓:1.5 ("AA" 堿性電池) x 4
電源功率:80mW (背光燈關(guān)時(shí))
電池壽命:100 小時(shí)(背光燈關(guān)時(shí)連續(xù)操作)
操作環(huán)境:0-40℃
大小重量:75(W) x 145(D) x 31(H) mm, Net 0.34 kg